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定休日 毎週月曜日
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| 解体対象焼却施設の空気中のダイオキシン類濃度の測定結果(第3の3(3)のア) |
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↓
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第1評価値＜
2.5pg-TEQ/m3 |
第2評価値≦
2.5pg-TEQ/m3≦
第1評価値 |
第2評価値＞
2.5pg-TEQ/m3 |
Ｂ測定値＜
2.5ｐｇ-TEQ／m3 |
第1管理区域 |
第2管理区域 |
第3管理区域 |
2.5ｐｇ-TEQ／m3≦
Ｂ測定値≦
3.75pg-TEQ/m3 |
第2管理区域 |
第2管理区域 |
第3管理区域 |
B測定値＞
3.75pg-TEQ/m3 |
第3管理区域 |
第3管理区域 |
第3管理区域 |
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↓
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・設備に付着する汚染物のサンプリング調査(第3の3(3)のイ(イ)のa～hの対象設備)
↓
・3000pg-TEQ/g ＜ サンプリング調査結果（d）
↓
・追加サンプリング(第3の3(3)のイ(ウ)) |
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↓
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↓
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| 汚染除去・解体作業中、デジタル粉じん計等により連続した粉じん濃度測定等を行わない計画の場合 |
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| 汚染除去・解体作業中、デジタル粉じん計等により連続した粉じん濃度測定等を行う計画の場合 |
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| 汚染物のサンプリング調査結果ｄ（pg-TEQ/g)に基づき、保護具選定に係る管理区域を決定する |
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| 過去の作業事例等から予想される粉じん濃度(g/m3）に汚染物のサンプリング調査結果ｄ（pg-TEQ/g)を乗じた値S(pg-TEQ/m3)に基づき、保護具選定に係る管理区域を決定する。なお、この方法で管理区域を決定する場合には、予想される粉じん濃度の算定根拠を示すこと。 |
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上表の第1管理区域 |
上表の第2管理区域 |
上表の第3管理区域 |
| d＜3000 pg-TEQ/g |
保護具選定に係る第1管理区域 |
保護具選定に係る第2管理区域 |
保護具選定に係る第3管理区域 |
| 3000≦d＜ 4500 pg-TEQ/g |
保護具選定に係る第2管理区域 |
保護具選定に係る第2管理区域 |
保護具選定に係る第3管理区域 |
| 4500 pg-TEQ/g≦d |
保護具選定に係る第3管理区域 |
保護具選定に係る第3管理区域 |
保護具選定に係る第3管理区域 |
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上表の第1管理区域 |
上表の第2管理区域 |
上表の第3管理区域 |
| s＜2.5pg-TEQ/m3 |
保護具選定に係る第1管理区域 |
保護具選定に係る第2管理区域 |
保護具選定に係る第3管理区域 |
| 2.5≦s＜ 3.75 pg-TEQ/m3 |
保護具選定に係る第2管理区域 |
保護具選定に係る第2管理区域 |
保護具選定に係る第3管理区域 |
| 3.75pg-TEQ/m3≦s |
保護具選定に係る第3管理区域 |
保護具選定に係る第3管理区域 |
保護具選定に係る第3管理区域 |
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・ガス状ダイオキシン類の発生するおそれのある作業
・解体対象設備のダイオキシン類汚染状況が不明 |
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・ガス状ダイオキシン類の発生するおそれのある作業
・解体対象設備のダイオキシン類汚染状況が不明 |
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↓
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↓
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| 保護具選定に係る第1管理区域 |
レベル1 |
| 保護具選定に係る第2管理区域 |
レベル2 |
| 保護具選定に係る第3管理区域 |
レベル3 |
| 保護具選定に係る汚染状況が判明しない |
レベル3 |
| 高濃度汚染物(3000pg-TEQ/g＜d)を常時直接取り扱う |
レベル4 |
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